Wellenplatte mit mehrfacher Ordnung bedeutet, dass die Verzögerung eines Lichtwegs zusätzlich zur fraktionalen Designverzögerung eine bestimmte Anzahl von vollen Wellenlängenverschiebungen erfährt. Die Dicke einer mehrstufigen Wellenplatte beträgt stets etwa 0,5 mm. Im Vergleich zu einer nullstufigen Wellenplatte reagiert eine mehrstufige Wellenplatte empfindlicher auf Wellenlängen- und Temperaturänderungen. Sie sind jedoch kostengünstiger und werden häufig in Anwendungen eingesetzt, bei denen die erhöhte Empfindlichkeit nicht entscheidend ist.
Merkmale: Dicke: 0,2-0,5 mm Hohe Schadensschwelle Bessere Temperaturbandbreite Niedrige Kosten |
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Artikelnr. :
WPLProduktherkunft :
FuZhouSpezifikationen:
Material:
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Quarz
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Durchmessertoleranz:
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+0,0, -0,1 mm
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Wellenfrontverzerrung:
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λ/8 bei 632,8 nm
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Verzögerungstoleranz:
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λ/300
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Parallelität:
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<1 Bogensekunde
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Oberflächenqualität:
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20/10
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Freie Blende:
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>90 %
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Beschichtung:
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S1 und S2: R<0,2 % @ Wellenlänge
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Standardwellenlänge:
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266 nm, 355 nm, 532 nm, 632,8 nm, 780 nm, 808 nm, 850 nm, 980 nm, 1064 nm, 1310 nm, 1480 nm, 1550 nm
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Standardprodukte:
Halbwellenplatten P/N#
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Viertelwellenplatten P/N#
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Durchmesser (mm)
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WPL210
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WPL410
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10,0
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WPL212
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WPL412
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12.7
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WPL215
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WPL415
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15,0
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WPL220
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WPL420
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20,0
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WPL225
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WPL425
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25.4
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WPL230
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WPL430
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30,0
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Technische Vorteile von Multi-Order-Wellenplatten:
Mehrstufige Wellenplatten erreichen eine hohe Phasenverzögerung durch die Erhöhung der optischen Dicke doppelbrechender Materialien und bieten wichtige Vorteile wie eine hohe Verzögerungspräzision bei Phasenfehlern <±1 % bei der Designwellenlänge ermöglichen eine präzise Polarisationssteuerung für Laser mit fester Wellenlänge. Ihre kompakte Struktur macht komplexe Kaskadendesigns überflüssig und eignet sich daher hervorragend für integrierte optische Systeme. Eine hohe Laserzerstörschwelle (> 10 J/cm² bei 1064 nm) gewährleistet Zuverlässigkeit in Hochleistungsanwendungen. In spektralen Polarisationsmesssystemen hält ihre stabile Phasenverzögerung die Messfehler des Polarisationsgrads unter 2 % und ermöglicht so hochpräzise Polarisationsanalysen in Szenarien wie der Atmosphärenzusammensetzungsspektroskopie und anderen anspruchsvollen optischen Charakterisierungsaufgaben.